三綜合試驗箱

?新一代外觀設計，箱體結構、制冷系統、控制技術均做較大改進，技術指標更穩(wěn)定，運行更可靠，維護更方便，備有高檔萬向滾輪，方便在實驗室內移動。

?超大觸摸屏搖表式操作，外觀更加簡潔大方，操作更加容易

?真空雙層玻璃：大視窗設計，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣

?為編程和文檔處理提供更多的接口選項，記錄量大：SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大倉有紙無紙記錄等選配

?可靠性高：主要配件選配專業(yè)廠商，保證提高整機可靠性

?振動臺：垂直水平自選（自購或代購）

 三綜合試驗箱

技術參數

執(zhí)行滿足標準及試驗方法

GBT10586-2006濕熱試驗箱技術條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)

GB/T2423.59-200電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度濕度振動三綜合

GB/T2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

GB/T2423.9-2001電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb:設備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)

GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗 
 

其他

?使用環(huán)境溫度：+5~+35℃(降溫環(huán)境溫度+5~+28℃z佳)

?安全：短路保護、超溫保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、漏電保護、相序缺相保護、操作人員安全保護、試件保護

附件標準配置

?標準樣品架：Aisi304材質1

?照明燈：飛利浦1

?測試孔：Φ50mm、（Φ60mm、Φ100mm非標）

?高溫膠塞：1

?高檔腳輪：4

?通訊：SD卡/USB/CF/以太網，按儀表選配